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Backlighting High lumen 2016 3V 60MA 0.2W 26-28LM 6500K PCT SMD LED CHIP Phone Flash light

Grundlegende Informationen
Place of Origin: SUZHOU
Markenname: PHOENIX
Zertifizierung: LM80 CE ROHS
Model Number: 2016
Minimum Order Quantity: 16000PCS
Preis: Verhandlungsfähig
Packaging Details: 4000PCS /ROLL
Delivery Time: 7-10 DAYS
Payment Terms: Western Union, MoneyGram, T/T
Supply Ability: 400KK PER MONTH
Name: Weiße Farbe SMD LED 2016 Lichtstrom (lm): 28-30lm
Farbwiedergabe-Index (Ra): 80 CCT: 6500K
Energie: 0.2W nput Spannung (V): 3V
Garantie (Jahr): 2 Jahre Arbeitszeit (Stunden): 20000
Betriebstemperatur (℃): -40-85 Lampen-leuchtende Leistungsfähigkeit (lm/w): 140

Backlighting hohes Lumen 2016 3V 60MA 0.2W 26-28LM 6500K Licht PCT SMD LED CHIP Phone Flash
 
1.Product Freatures

. Wirksamkeit von 140 lm/W typisch für 6500K, Kriteriumbezogene Anweisung 80

. Nehmen Sie Chip der guten Qualität und Rahmen, antistatische gute niedrig- Verminderung der Stabilität ultra an

. Hohe Helligkeit, hohe Farbwiedergabe der niedrig- Verminderung

. Minimum 80, 90 und 95 Wahlen Kriteriumbezogener Anweisung

. Starkes Schweißen und gutes Stabilität Undeadlicht

 

. Produkt-Reihe und Firmenlogo auf der Front

. CER ROHS LM80 Bescheinigung

 

. Betrachtungswinkel: 120 Grad
.RoHS konformes bleifreies Löten kompatibel
Struktur 2.Package

Backlighting  High lumen 2016  3V 60MA 0.2W 26-28LM 6500K PCT SMD  LED CHIP  Phone Flash light 0Backlighting  High lumen 2016  3V 60MA 0.2W 26-28LM 6500K PCT SMD  LED CHIP  Phone Flash light 1

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Maximalleistungen 3.Absolute
 

EinzelteilSymbolAbsolute MaximalleistungenEinheit
VorwärtsstromWENN60MA
SperrspannungVr5V
Pulsierter VorwärtsstromIFP*90MA
VerlustleistungPD0,2W
BetriebstemperaturSPITZE-40~85
LagertemperaturTest-40~85
Elektrostatische EntladungESD2000 (HBM)V
GrenzschichttemperaturTj110
Thermischer Widerstand LEDRth-s-j27℃/W

 
elektrooptische 4.Typical Kennlinien

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Liste der Zuverlässigkeitsprüfungs-5.LED

 

Test-EinzelteilTestbedingungenStandardMenge (PC)
Leben-Test25℃, 1000Hrs@60mA/22
Hohe Temperatur85℃, 1000Hrs@60mA/22
Niedrige Temperatur-40℃, 1000Hrs@60mA/22
Hohe Feuchtigkeits-Hitze

85℃, 85%RH,

1000Hrs@60mA

/22
Niedrige Temperatur-Speicher-40℃, 1000Hours

JEITA ED-4701

200 202

22
Speicher der hohen Temperatur100℃, 1000Hours

JEITA ED-4701

200 201

22
Temperatur-Zyklus(- 40' C 30mins --25' C (5mins)--100 ' C (30mins), ändernde Rate des Temp: 3+/-0.6' C/min)

JEITA ED-4701

100 105

22
Wärmestoß-40 ' C (15mins) --100 ' C (15mins), ändernde Zeit <5mins> MIL-STD-202G22
Impuls-Leben-TestTp=1ms, DC=0.1, D=Tp/T @ 3×60mA, 1000Hours/22
Esd-Test (HBM)2000V-, 200V-/Step, Vorwärts- u. Rücktest 3times

EGZ

(Q101-001)

22
Lötender Widerstand

260±5℃, 10S, 3times

Vorbehandlung 30℃, 70%RH

JEITA ED-4701

300 302

22
Zerfall der Rückflut-IV

260±5℃, 10S, 1time

Vorbehandlung 30℃, 70%RH, 168Hours

/22
Urteil-Kriterien
Vorwärtsspannung VFVF-Maximal-Zunahme < 1="">
Gegenwärtiger RÜCKIRIr-Maximal-Zunahme < IRmax="">
Lichtstärke IVIV Zerfall < 40="">
※ Löten Fertigkeitstesttestkriterien: Abdeckung ist nicht kleiner als 95%
Anmerkung: Maß wird genommen, nachdem die geprüften Proben zu den normalen Umgebungsbedingungen zurückgebracht worden sind (im Allgemeinen nach zwei Stunden)

 

 
 
  

Kontaktdaten
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